常見問題

以可行性分析階段，主要先以委外量測來快速取得量測手法與量測數據是否滿足客戶需求；而相弘的量測設備都是自主開發的，主要採用非接觸和非破壞性的光學檢測方法，以確保能夠獲得高精度的量測數據。我們可以進一步針對根據需求客戶的具體要求開發專屬設備。

我們主要針對半導體與高精密零配件進行檢測服務，同時由於我們擁有自主研發的知識產權（IP）和強大的設備整合能力，我們能夠根據客戶的特殊工件或量測需求，提供量身定制的解決方案。這意味著我們可以為客戶設計和製造符合其特定要求的檢測設備，以滿足各種特殊應用和精度需求。

我們提供以下具體的量測顧問服務：

• 量測課題識別：協助客戶清楚識別和定義量測問題，進行需求分析。
• 量測方案規劃：針對識別的課題，我們制定量測方案，包括選擇合適的設備和技術，並設計實驗流程。
• 初期可行性驗證：在方案確定後，進行初步的可行性驗證，以確保方案的實用性和有效性。
• 代檢測作業：正式執行量測作業，使用先進的設備和技術進行樣品檢測。
• 數據關聯性分析：對檢測數據進行關聯性分析，找出影響產品品質和性能的關鍵因素。
• 報告與建議：提供詳細的分析報告與SPC數據圖呈現，根據數據結果提供建議，幫助客戶理解問題並做出決策。
• 持續優化支援：在提供初步結果後，根據客戶需求進行持續的品質優化和改進建議。

這些服務旨在幫助客戶解決量測挑戰、提升產品品質，並支持客戶在持續改進過程中的決策制定。

承上，我們從協助客戶識別量測課題、規劃解決方案，並於初期支援可行性驗證。確認量測結果後，正式執行代檢測作業、分析數據關聯性與提供報告，找出影響產品品質和性能的關鍵因素，幫助客戶進行決策和持續優化品質。

一般來說，我們會先與客戶討論並澄清量測需求，然後初步規劃量測方案。正式收到樣品後，通常約2-3週內會提供可行性報告。如果樣品具有特殊尺寸或規格，檢測時間可能會有所延長，具體時間會根據樣品特性和檢測需求而定。

可以的，相弘提供的代檢測服務，可彈性提供單點、多點、局部掃描與全面檢測的服務。

相較於其他檢測服務商，我們的量測技術擁有以下獨特優勢和專業背景：

• 專家團隊的獨特視角：我們的專家團隊擁有深厚的半導體行業背景，能夠提供針對晶圓廠客戶的專業視角和語言，使我們的服務更具針對性和有效性。
• 先進的檢測技術：我們採用非破壞性和非接觸性的檢測方法，避免了對樣品的物理接觸，從而大幅降低表面汙染風險並避免樣品損壞。這樣的方法不僅保護了樣品，也減少了對樣品的額外處理或更換需求，有助於客戶建立事前檢測機制。
• 全面的數據分析服務：我們提供專業的數據分析服務，將原始檢測數據轉化為全面的統計值和可視化結果。這樣的分析不僅幫助客戶節省時間和資源，還提高了測試結果對終端客戶的可靠性。

這些優勢使我們能夠在檢測過程中提供更高的精確度和效率，進而支持客戶實現最佳的產品品質控制。

相弘量測儀器模組通過與成功商業化的量測儀器廠商及學術單位合作，將量測儀器模組化並整合進我們的設備。我們利用Gage R&R量測工具進行變異性評估，以確保不同操作者在相同條件下使用相同量測工具能夠得到一致的測量結果，從而保證數據的重複性、再現性與可追溯性。此外，我們在量測機台旁設置了Silicon wafer進行基線校正，並透過其他廠商進行樣品覆驗。若客戶有特殊需求，我們還會在設備正式上線前尋求公正單位（如NML國家度量衡標準實驗室）的驗證報告，作為額外的佐證。

在初期可行性驗證階段，建議提供1-2個樣品，以進行初步量測手法可行性驗證。而後為了建立可靠的數據基礎，我們建議提供至少4個樣品(Good/Bad各2ea)進行初步測試和分析。這樣可以幫助我們更好地理解樣品的變異性和量測設備的穩定性，從而優化我們的量測方法。如果需要進一步的驗證和優化，我們可能會要求更多的樣品來確保數據的完整性和準確性。

用戶於正式使用相弘雲端量測服務平臺前，我們會提供並簽署【技術與機密資料保密條款】，以承諾用戶於平台留存資料受到完整機密保護。同時，用戶也可根據內部營業管理需求，於平台輸入資料時，進行適度去識別化處理，以進一步確保機密性。同時，平台用戶擁有平台資料管理的絕對所有權，這意味著如沒有用戶授權、開放資料讓相弘平台團隊瀏覽，相弘平台團隊也無法查看用戶於平台上的任何資料。