掌握良率與品質關鍵
Unlocking the Secrets to Superior Yield and Quality Control
客戶需求 & 應用場景
零配件優化 Part CIP
- 原廠 vs 副廠品導入
- 舊品 vs 新品 性能比較
- OK vs NG 關鍵品質差異
- 零件與機台/製程匹配性
- 強化出貨品保
- 強化入料檢驗
客製化量測需求
- 非破壞性/非接觸式量測手法
- 需多點或全區域/面掃描檢測
- 特殊工件規格
- 關聯性分析需求
- N+1 品質關鍵
About MetroCanS
關於相弘
相弘科技於2020年成立,專注於為半導體產業客戶開發關鍵半導體零件檢測技術,並將其工業化應用,致力成為解決零件生產和產線品質異常分析問題的專家。
自2021年起,我們通過自主研發,開始客製化量測設備的開發,並與系統整合夥伴合作,推出多項先進的量測技術和設備,包括光學表面輪廓量測、表面汙染與成份分析量測、環境與設備微粒子監控系統與HDP噴嘴流量檢測設備;產品不僅擁有多項台灣專利,更取得SEMI S2認證。